报告题目：固/液界面下的静电效应：适用于形成高纵横比硅微结构和实验芯片

（Electrostatic effects at solid/liquid interfaces：Application to the formation of high aspect ratio silicon microstructures and Lab-on-the-Chip）

报告人：Associate Professor Pascal KLEIMANN

讲座时间：2017年9月13日（星期三）上午10:30-12:00

讲座地点：航空楼B410机电学院第一会议室

邀请人：何洋副教授 苑曦宸助理教授

承办学院：机电学院

联系人：卢宇超

联系电话：18829041036

报告简介：

Electrostatic effects at interfaces are fundamentals in physics and are the source of numerous famous applications (photovoltaic cells, MOS transistors...). After a presentation of the distribution of electrical charges at interfaces, their properties and the key point of polarization, a special attention will be paid to the case of solid/liquid interfaces which are widely encountered in the field of microfluidics and Lap-On-a-Chip. We will show that electrostatic effects can be wisely used to sort, to detect, or to concentrate biomolecules. They can also be used to form high aspect ratio silicon submicrometer structures and membranes.

报告人简介：

Pascal KLEIMANN 1992年毕业于法国里昂高等化学、物理及电子学校（CPE Lyon）的电子与信息处理学科的微电子专业，获得工程师文凭。于1993年至1997年在里昂国立应用科学学院（INSA Lyon）的LPM研究所攻读博士学位，期间作为主要参与人之一，参与从事“硼掺杂LPCVD多晶硅薄膜的高温压阻特性的重新评估”的基础研究工作。于1997年至1998年在瑞士KTH大学的电子学院攻读博士后，并于1998年回到法国里昂第一大学担任讲师。Pascal KLEIMANN现阶段主要从事通过光电化学蚀刻微硅和纳米结构硅、纳米流体晶体管和微纳流体系统应用于健康领域的研究与设计等3个方面的研究。